临汾智能保险丝测试仪压降测试模式测试时间参数

HNDL100丝测试仪熔断丝测试仪

项目

要求及指标

输入电压范围

220V±10%，50Hz/60Hz

测试电流范围

0.5~150A，1%RD±0.2%fs

测试开路电压精度

1%RD±0.2%fs

试验模式

熔断时间测试 M1和耐久性测试M2

测试时间范围

M1 模式时间范围:10mS--60分钟

M2 模式时间范围：10mS--100小时

耐久性时间设置

0~99H59M

次数设置

0~9999次

时间分辨率

10ms

测试电流步

50mA~1A，可设置

测试电流精度

M1 模式< ±0.4%SET + 50mA（‘SET’为设置数值），

M2 模式<±0.5%SET + 100mA（‘SET’为设置数值）

测试时间精度

M1 模式< ±10mS+0.3%RD（‘RD’为实际工作时间数值），

M2 模式<±10mS+0.5%RD（‘RD’为实际工作时间数值）

显示方式

7 寸触摸屏显示

控制方式

FPGA+ARM 控制

其他

支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议

上一讲主要讲述了到底是哪些原因引发了T/R组件测试安全性问题，它涉及到操作人员、被测T/R组件、测试仪器、测试程序和测试数据等多方面的安全问题，那怎么实现安全性增长呢？加强操作人员的防护和被测组件的隔离（铁布衫+钟罩）笔者经常在内各大工院所中发现操作人员自身的防护观念较为淡漠，普遍嫌麻烦。在大功率测试环境下，操作人员应该佩戴防护面具、眼镜和防辐射工作服。科研人员不是义和团，你以为自己刀不入呢？老老实实穿上铁布衫吧。Mentor嵌入式多核框架能消除异构硬件和软件环境的管理复杂性，从而简化SoC系统设计异构多处理对于当今的嵌入式应用来说正变得越来越重要。片上系统(SoC)架构，赛灵思的ZynqUltraScale+MPSoC提供包含四个ARMCortex-A53内核以及两个ARMCortex-R5内核的强大异构多处理基础架构。除了核心的计算基础架构外，SoC还包含一系列丰富的硬化外设IP和FPGA架构，可实现灵活的设计模式，从而帮助系统开发人员创建高性能多处理系统。

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	项目	要求及指标
	输入电压范围	220V±10%，50Hz/60Hz
	测试电流范围	0.5~150A，1%RD±0.2%fs
	测试开路电压精度	1%RD±0.2%fs
	试验模式	熔断时间测试 M1和耐久性测试M2
	测试时间范围	M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围：10mS--100小时
	耐久性时间设置	0~99H59M
	次数设置	0~9999次
	时间分辨率	10ms
	测试电流步	50mA~1A，可设置
	测试电流精度	M1 模式< ±0.4%SET + 50mA（‘SET’为设置数值）， M2 模式<±0.5%SET + 100mA（‘SET’为设置数值）
	测试时间精度	M1 模式< ±10mS+0.3%RD（‘RD’为实际工作时间数值）， M2 模式<±10mS+0.5%RD（‘RD’为实际工作时间数值）
	显示方式	7 寸触摸屏显示
	控制方式	FPGA+ARM 控制
	其他	支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议