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三级承装承修承试 变电站预防性试验规定 二级承修承试试验项目

更新时间:2024-09-21 07:10:00
价格:¥960/台
输入:220v
电流:10A
电压:2000v
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详细介绍
三级承装承修承试 变电站预防性试验规定 二级承修承试试验项目 不过,此类应用中存在一个经常被忽视的问题,即外部信号导致的高频干扰,也就是通常所说的“电磁干扰(EMI)”。EMI可以通过多种方式发生,主要受终应用影响。,与直流电机接口的控制板中可能会用到仪表放大器,而电机的电流环路包含电源引线、电刷、换向器和线圈,通常就像天线一样可以发射高频信号,因而可能会干扰仪表放大器输入端的微小电压。另一个例子是电磁阀控制中的电流检测。电磁阀由车辆电池通过长导线来供电,这些导线就像天线一样。
承装承修承试资质试验设备清单/变电站预防性,交接试验设备清单

10kV变电站高压电气试验设备清单

序号

机具设备名称

数量

规格

型号

一、高压发生设备

1

直流高压发生器

1套

DC:60kV/2mA

HNHNZGF-60kV/2mA

2

工频耐压试验装置

AC:5kVA/50kV

HNYD-5kVA/50kV

3

变频串联谐振试验成套装置

75kVA/75kV/1A:30~300Hz

HNXZ-f-108Kva-108kV

二、电气测量仪器

回路电阻测试仪

1台

DC:≥100A

HNHL-100A

三相继电保护测试仪

三相电压电流各2组

HN-843A

互感器伏安特性测试仪

500V;5A

HN-610A

4

接地电阻测试仪

交流法>3-20A;异频法

HN-300D

5

变压器直流电阻测试仪

DC:10A

HN-7010

6

变压器变比测试仪

数字式0.5级

HN-100D

7

断路器特性测试仪

2台

 

HN-11C

8

大电流发生器

1000A

HNDL1000

三、常用仪器仪表

兆欧表

2只

DC:2500V

ZC11D-10

DC: 500V

ZC25-3

数字式双钳相位伏安表

测量电流1mA-5mA

HN09A

35kV变电站高压电气试验设备清单

直流高压发生器

1套

DC:120Kv/2mA

HNZGF-120kV-2mA

2

工频耐压试验装置

AC:30kVA/50kV

HNYD-30kVA/50kV

1套

AC:6kVA/10 kVA /50kV

HNYD-10kVA/50kV

变频串联谐振试验整套装置

HNXZ-f-108Kva/108kV

感应耐压试验装置

5kVA/360V/;150Hz

HNXZF-7kVA

高压介质损耗测试装置

1、 介质测量精度为1%

2、 电容量精度为5%

3、 抗干扰变频

HN-101D

HN-843A

500V;5A

HN-10A

交流法>3-20A;异频法

HN-300D

DC:10A

HN-7010A

HN11C

9

绝缘电阻测试仪

DC:0~5000V;200G(Ω)

HN-2000

10

大电流发生器

2000A

HNDL2000

DC:500V

110kV变电站高压电气试验设备清单

1

直流高压发生器

DC:200Kv/2mA

HNZGF-200kV-2mA

AC:120kVA/2 mA

AC:10kVA/100kV

HNYD-10kVA/100kV

AC:5kVA/50kV

HNYD-5kVA/50kV

500kVA/200kV/2.5A:30~300Hz

HNXZ-f-540Kva/270kV

2台

1、介质测量精度为1%

2、电容量精度为5%

3、抗干扰变频

HN-101D;HN-101F

HNHL-100A;HNHL-200A

2200V;5A

HN-12F

电容电感测试仪

HN-500L3

接地导通测试仪

DC:1A

HN-310C

HN-7010A; HN-520

变压器绕组变形测试仪

频响法

HN4000

10

有载分接开关测试仪

I≥1A

HN-6702

11

12

氧化锌避雷器阻性电流测试仪

HN6100

13

14

雷击计数器检测仪

HNFC-1

15

16

三、油、气试验仪器

SF6检漏仪

灵敏度1ppmv

HN-3803

SF6气体微水测试仪

HN-3805

四、常用仪器仪表

 


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大陆封测产业的机遇摩尔定律由英特尔创始人之一戈登摩尔提出,大致意思为,每隔18-24个月在价格不变的情况下,集成电路上可容纳的元器件数目会翻一倍,性能也将提升一倍。这一定律统治了半导体产业50多年,近些年却屡屡被预估将要走向终结,而预测者中甚至包括摩尔本人。而这条金科玉律走向末路的佐证之一便是英特尔修改了基于摩尔定律的“Tick-Tock”策略,将这一架构和工艺交替升级策略的研发周期在时间上从两年延长至三年,制程工艺变为三代一升级,并且其10nm制程一直跳票。在耐压测试前,因为进行了接线的检测,即使只花了很少的时间,还是增加了接触时间,这是该方法的欠缺。监测电压外加部分的电压耐压测试仪所显示的电压,是发生端的电压,并不是被测物电压外加部分的电压。所以如果接线正常,发生端电压和电压外加部分电压应该是相同的。如果断线或接触不良,电压外加部的电压会小于发生端的电压,这时即可判断为接线有异常。因为能够检测出耐压测试中接线的异常,且对于生产线的接触时间又没什么影响,这一点是比较便利的。

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