远见电气 模拟直流标准电阻器来电咨询 回路电阻测试仪检定装置
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HNHL100回路电阻测试仪直流电阻测试仪检定装置
又名:模拟大功率直流标准电阻器
HNHL100型回路电阻测试仪检定装置(以下简称模拟电阻)是用于校准回路电阻测试仪、变压器内阻快速测试仪(直阻仪)的标准装置。
它是一台由高精度直流电流比较仪作电流比例器和直流模拟电阻箱(模拟电阻箱采用高电势电位差计线路)组成用于检定和校准回路电阻测试仪、变压器内阻快速测试仪的标准器。在直流电流、电压等效这一原理下,提供校准回路电阻测试仪、
变压器内阻快速测试仪(直阻仪)的大功率标准电阻器。组成0.01μΩ~211.110Ω 模拟电阻。本装置可以检定0.01μΩ~211.110Ω
量程的回路电阻测试仪是为检定阻值范围从0.1μΩ到200Ω的回路电阻测试仪、变压器内阻测试仪(简称直阻仪)
而设计的。位数为4½的直流数字欧姆计(以下简称欧姆计)及其以下等级和位数的欧姆计也可以用它作标准器。
HNHL100型回路电阻测试仪检定装置由三部分组成:
1.1.直流电流比例器(以下简称比例器):
采用直流电流比较仪技术设计制造该比例器。可将200A、10A、5A、1A、0.1A的直流电流高比例精度将其转为
200mA、100mA、100 mA直流电流。
1.2.直流模拟电阻箱(以下简称模拟电阻箱):
采用直流高电势电位差计线路,在直流电压等效这一原理下,提供
(0~20)×10Ω+(0~10)×(100+10-1+10-2+10-3)Ω的直流模拟等效电阻。盘(0~20)×10Ω、
第二盘(0~10)×100Ω、
第三盘(0~10)×10-1Ω、第四盘(0~10)×10-2Ω、第五盘(0~10)×10-3Ω。
二、技术指标
2.1.比例器:
比例值K为次级电流与初级电流的比值。其分别为10-3、10-2、2×10-2 、10-1相对应的匝比值为
1/1000、10/1000、20/1000、100/1000。
对应电流比值在检定直阻仪时为200A /200mA、10A/100mA、5A/100mA、1A/100mA。
比例值准确度 |δK|≤1×10-5。
δK:比例值K的相对误差。
2.2.模拟电阻箱:
电阻示值R:(0~20)×10Ω+(0~10)×(100+10-1+10-2+10-3)Ω
示值准确度:|△R|≤2×10-4()RN
RN:每个量程盘的第10点的阻值
考虑(×0.01/200A)和(×0.1/100A)两个量程,是对模拟电阻箱进行并联下的量程,
故示值准确度要有变化。
△R :R的误差
2.3.每盘精度:(×1000是实物电阻组成)
示值盘(电流) 盘 第二盘 第三盘 第四盘 第五盘
精度(×0.01/200A) ≤0.05% ≤0.1% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×0.1/199A) ≤0.05% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×1/100A) ≤0.02% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×10/10A) ≤0.02% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×20/5A) ≤0.02% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×100/1A) ≤0.02% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
精度(×1000/100mA) ≤0.02% ≤0.05% ≤0.1% ≤1% 不计精度
2.4.阻值范围:
量程 电流 阻值范围 分辨率
×0.01 200A 0~2.11110mΩ 0.01μΩ
×0.1 200A 0~21.1110mΩ 0.1μΩ
×1 100A 0~211.110mΩ 1μΩ
×10 10A 0~2.11110Ω 10μΩ
×20 5A 0~4.22220Ω 100μΩ
×100 1A 0~21.1110Ω 1mΩ
×1000 100mA 0~211.110Ω 10mΩ
2.5.电流表准确度:≤2×10-3读数+2×10-4量程
每个示波器都有其输入阻抗,这个阻抗是特性阻抗,不仅仅是电阻,还包含了电容和电感等。由于引入的额外负载,所以接入被测电路后,会从信号中汲取能量,实际上就会影响被测电路,恶劣的后果就是电路本来是正常工作的,引入示波器后却不正常了,此时容易得出与事实相反的结论。因此我们在进行分析测量时必须考虑到的负载特性及测试电路的阻抗匹配。在×1档位时,信号直接进入示波器,这类在测试点处将其自身的电容(包括电缆的电容)与示波器的输入阻抗连在了一起,这就是的负载效应。传感器对某一物理量的准确程度取决于传感器的性能指标。为了确定传感器的测量范围、准确性,必须对传感器的性能指标进行测试。对新研制的传感器,必须进行的技术性能的测试和校准,用测试和校准的数据确定其测试范围、准确程度。对于标准型的传感器,用校准数据进行量值传递。这些测试数据,既是衡量传感器好坏的依据,也是改进传感器设计和工艺的依据。传感器经过一段时间储存或使用后,性能指标是会发生变化的,因此对传感器的性能指标要定期进行复测。