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HNCD-1 超低频耐压试验装置0.01hz 生产商

更新时间:2024-09-21 07:10:00
价格:¥960/台
输入:220v
电流:10A
电压:2000v
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详细介绍
HNCD-1 超低频耐压试验装置0.01hz 生产商 装备制造企业目前还是以离散制造为主。很多企业的技术改造重点,就是建立自动化生产线、装配线和检测线。美国波音公司的总装厂已建立了U型的脉动式总装线。自动化生产线可以分为刚性自动化生产线和柔性自动化生产线,柔性自动化生产线一般建立了缓冲。为了提高生产效率,工业机器人、吊挂系统在自动化生产线上应用越来越广泛。智能车间一个车间通常有多条生产线,这些生产线要么生产相似零件或产品,要么有上下游的装配关系。

HNCD-1超低频高压发生器

    电气设备的高压耐压试验是《绝缘预防性试验》规定的重要项目之一。 耐压试验可分为交流耐压试验和直流耐压试验,交流耐压试验又可分为工频、变频和 0.1Hz 超低频测试技术,其中 0.1Hz 超低频技术是技术,是当前电工委员会的技术。我公司新一代本系列超低频高压发生器是采用美国技术自主开发的核心产品,采用 7 寸触模屏、 ARM7 单片机、高速 AD 采集电路,并配有后台管理软件。它克服了国内同类产品的诸多缺点(见表 1),远远高于同类进口产品,特别适用于绝缘等值电容较大的电气设备(例如:电力电缆、电力电容器、大中型发电机和电动机等)耐压试验,符合 2004 年新颁布电力行业标准《超低频高压发生器通用技术件 DL/T849.4-2004》要求。
HNCD-1 超低频耐压试验装置0.01hz 生产商

低频绝缘耐压试验实际上是工频耐压试验的一种替代方法。在对大中型发电机、电动机、电力电缆等试品进行工频耐压试验时,由于它们的绝缘层呈现较大的电容量,所以需要很大容量的试验变压器或谐振变压器。这样一些巨大的设备,不但笨重,造价高,而且使用十分不便。为了解决这一矛盾,上普遍采用了降低试验频率,从而降低了试验电源容量的方法。从多年的理论和

实践证明,用 0.1Hz 超低频耐压试验替代工频耐压试验,不但能有同样的等效性,而且设备的体积大为缩小,重量大为减轻,理论上容量约为工频的五百分之一,且操作简单。这就是为什么发达普遍采用这一方法的主要原因。根据我国电力系统实际情况,发改委已制定了《35kV 及以下交联聚乙烯绝缘电力电缆超低频(0.1Hz)耐压试验方法》行业标准,2004 年颁布了电力行业标准《超低频高压发生器通用技术条件 DL/T 849.4-2004》,我国正在推广这一的试验方法。虽然直流耐压试验设备具有体积小、重量轻和造价低等优点,但是直流耐压试验对被试品绝缘破坏性也是的。(见表 2)所以颁布的电气设备预防性试验相关规程已经明文规定不再使用直流高压对电气设备进行耐压试验,使用交流耐压试验。本公司研制的新一代本系列 0.1Hz 超低频高压发生器”采用电力电子元器件和 ARM7 单片机技术,进一步降低了设备的体积和重量,

 式操作,性能更稳定,克服了代机械式升压器使用寿命短、故障率高、体积大的缺点。通过多年的实践,大量用户的反馈表明:本  系列超低频高压技术在,!

功能简介:


超低频高压发生器是接合了现代数字变频先进技术,采用微机控制,升压、降压、测量、保护完全自动化,并且在自动升压过程中能进行人工干预。

技术参数:

工作电源:   AC 220V±5, 50Hz±10%
2、环境温度:   -10-40℃
3、相对湿度:   ≤85%
4、输出电压:   0-30KV、0-50KV、0-80KV
5、输出频率:   0.1Hz、0.05Hz 、0.02Hz
HNCD-1 超低频耐压试验装置0.01hz 生产商

电力电缆耐压试验方法

 1. 将与被测试电缆相连的电气设备断开。

 2. 用兆欧表测试电缆各相绝缘参数,测试合格方可进行超低频耐压试验。

 3. 整定试验电压值:Umax=3Uo,其中 Uo 为电缆的额定相电压值。

 例 1:某电缆参数:额定线电压为 10kV、额定相电压 Uo=6kV,所以试验电压整定值为:

 Umax=3Uo=18kV

 型号橡塑绝缘电力电缆 0.1Hz 超低频试验电压值整定值。试验接线:用随机附带的连接将试验设备与试验电缆按图 13 所示的方法连接。仔细检查接线正确后合上电源,再次设定好试验频率,时间和电压以及高压侧的过流

保护值、过压保护值,然后开始升压试验。升压过程应密切监视高压回路,试品电缆是否有异常响声。升至试验电压时,仪器开始自动记录试验时间、显示试验电压值。


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微分结构函数中,波峰与波谷的拐点就是两种结构的分界处,便于识别器件内部的各层结构。在结构函数的末端,其值趋向于一条垂直的渐近线,此时代表热流传导到了空气层,由于空气的体积无穷大,因此热容也就无穷大。从原点到这条渐近线之间的x值就是结区到空气环境的热阻,也就是稳态情况下的热阻。利用结构函数识别器件封装内部的“缺陷”:对比上面两个器件的剖面结构,固晶层可见明显差异。如下图,左边为正常产品,右边为固晶层有缺陷的产品。


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