HNNY-2 工频耐电压测试仪 10KV 便携式耐压测试仪 5年保修

HNNY便携式交直流耐压测试仪 HNNY-2 工频耐电压测试仪 10KV 便携式耐压测试仪 5年保修

    便携式耐压测试仪适用于电机、电器、仪器仪表和家用电器，以及强电系统的安全耐压和漏电流的测试。该仪器操作方便，，性能良好，维修方便。是符合GB4706.1《家用和类似用途电器安全通用要求》和GB9706.1《医用电气安全通用要求》及GB4943、GB4793等标准中相关条款的试验要求所需的测试设备。

    电源输入：220V±10%  
    装置容量：0.5kVA
    电压输出：0～5000V ～10000v-20000v-50000v
    漏电流、报警电流：0.5-20mA（可按需定制）
                      0.5-200mA（选配）
    基本误差：±（5%r+3d）
    输出波形：正弦波
    时间测试范围：1s～99s，连续设定和手动；
HNNY-2 工频耐电压测试仪 10KV 便携式耐压测试仪 5年保修半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，封装和封装后测试组成，晶圆制造和封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。