池州 噪声负载测试平衡系统 电容器充放电试验装置 冲击电压试验仪
更新时间：2024-05-15 07:10:00
价格：￥127/套
电流:2A
电压:220v
精度:0.1级
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详细介绍
HNZD100系列JP柜新标准试验设备
（详细资讯厂家）136+0898+0122
1 、供货内容
本次供货内容为噪声测试平衡负载系统。
2、性能参数
2.1适用范围：适用于对低压成套开关设备和控制设备、CBB电容器、电力电容器等行业进行温升和噪声测试的用设备。
2.2符合标准：GB7251.1-2017，GB15576-2020，GB12747-2015，GB3667.1-2016 相关标准，验证噪声的可靠性测试。
2.3产品组成：本系统主要由大功率三相电源，大功率三相电抗柜和噪声采集器等部分组成，自动通过PLC进行系统控制，自动调压，具有过压、过流保护功能。
3 、要求
3.1大功率三相电源
3.1.1输出方式：3相4线
3.1.2三相输出电压：0 ～500VAC（接近0）
3.1.3显示分辨率：0.1V
3.1.4显示精度：±2%±2个字
3.1.5输出功率:60kVA
3.1.6输出方式:变压器耦合输出
3.1.7调节方式:自动调节
3.1.8失真度:由市电决定（THD＜5%）
3.1.9试验频率:50Hz
电容充放电试验装置
输入电压：～220V±10% 50Hz；充电电压：DC0～1000V；分辨率：1V；显示精度：±3%±2个字；充电电流：恒流1A；控制方式：触摸屏控制；充电时间设置：0～9999S；放电时间设置：0～9999S；放电后判定电压设置：0～100V；试验次数设置：1～9999次；保护功能：过压、过流设置；缘等级：F级;防护等级：IP20（适合室内使用）仅适用于带无功补偿装置的JP柜
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的制备：制样的稳定性产生均匀样品的3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。目前，电子通信发展迅速，对、装置等方面也提出了更高的要求。设备制造商也在不断寻求新的方案，尤其是在热管理方面将面临更多的挑战和压力，需要通过一款靠谱的热像仪，随时监控变化，获取高质量的热像图。爱尔兰科克郡Tyndall家研究所目前正在探寻高性能光电子器件的组建方案。研究所特别研究小组利用热显微镜系统中的FLIR制冷型中波热成像仪，清晰地呈现了新一代无源光网络的硅光子光网络单元(ONU)图像。
（详细资讯厂家）136+0898+0122
1 、供货内容
本次供货内容为噪声测试平衡负载系统。
2、性能参数
2.1适用范围：适用于对低压成套开关设备和控制设备、CBB电容器、电力电容器等行业进行温升和噪声测试的用设备。
2.2符合标准：GB7251.1-2017，GB15576-2020，GB12747-2015，GB3667.1-2016 相关标准，验证噪声的可靠性测试。
2.3产品组成：本系统主要由大功率三相电源，大功率三相电抗柜和噪声采集器等部分组成，自动通过PLC进行系统控制，自动调压，具有过压、过流保护功能。
3 、要求
3.1大功率三相电源
3.1.1输出方式：3相4线
3.1.2三相输出电压：0 ～500VAC（接近0）
3.1.3显示分辨率：0.1V
3.1.4显示精度：±2%±2个字
3.1.5输出功率:60kVA
3.1.6输出方式:变压器耦合输出
3.1.7调节方式:自动调节
3.1.8失真度:由市电决定（THD＜5%）
3.1.9试验频率:50Hz
电容充放电试验装置
输入电压：～220V±10% 50Hz；充电电压：DC0～1000V；分辨率：1V；显示精度：±3%±2个字；充电电流：恒流1A；控制方式：触摸屏控制；充电时间设置：0～9999S；放电时间设置：0～9999S；放电后判定电压设置：0～100V；试验次数设置：1～9999次；保护功能：过压、过流设置；缘等级：F级;防护等级：IP20（适合室内使用）仅适用于带无功补偿装置的JP柜
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的制备：制样的稳定性产生均匀样品的3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。目前，电子通信发展迅速，对、装置等方面也提出了更高的要求。设备制造商也在不断寻求新的方案，尤其是在热管理方面将面临更多的挑战和压力，需要通过一款靠谱的热像仪，随时监控变化，获取高质量的热像图。爱尔兰科克郡Tyndall家研究所目前正在探寻高性能光电子器件的组建方案。研究所特别研究小组利用热显微镜系统中的FLIR制冷型中波热成像仪，清晰地呈现了新一代无源光网络的硅光子光网络单元(ONU)图像。
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